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メーカーHP 粉体用電位差滴測定装置
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粉体用電位差滴測定装置 DT−400
 
 
粉体用電位差滴測定装置
 
概要
 
化学組成や粒度分布、ゼータ電位、比表面積などの粉体物性には有意差が見られないのに、スラリー特性や最終製品にした時、大きな問題を生じることがよくあります。このような場合、原料や材料の表面特性を的確に把握できる電位差滴定法をお奨めいたします。DT-400は、特に粉体分析用にソフトウェアの設計がなされ、原料粉体の品質管理に最適です。
 
特徴
 
従来の滴定曲線をスペクトル化し、粉体の表面特性の差を高感度に検出可能
滴定条件を自由に設定でき、多種多様な材料に対応可能
滴定曲線の微分値の解析が可能
1回の測定時間は20分程度で分析作業の効率化実現可能
 
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