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HOME  >  科学機器部取扱製品別商品リスト  >  デジタル画像解析方式 粉粒体粒度分析装置 PartAn
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メーカーHP デジタル画像解析方式 粉粒体粒度分布測定装置 PartAn 世界初 3次元粒子画像解析システム搭載
ana-tec
世界初 3次元粒子画像解析システム搭載
デジタル画像解析方式 粉粒体粒度分布測定装置 PartAn
 
概要
 
デジタル画像解析方式 粉粒体粒度分析装置 PartAn 世界初 3次元粒子画像解析システム搭載 従来の画像解析式粒度分布測定では、撮影された粒子の裏側は見ることができませんでした。しかし、PartAnでは、最新鋭の画像解析技術により、測定された全粒子の中から調査したい粒度分布範囲を指定し、ソフト上で個々の粒子を個別に3D画像で見ることが出来ます(*1)。更に、測定された粒子の3D画像をマウスで自由に動かして見ることも可能です。これにより、従来の画像解析法では困難だった個々の粒子について3次元粒子形状解析が可能となりました。
*1)ノルウェー、米国、ヨーロッパ、日本他、国際特許申請済。
 
アプリケーション
 
粗大粒子解析
  測定された画像の中から粗大粒子だけを抜き出して3D画像で解析可能
品質管理
  スペックアウト粒子の粒子形状分析を3D画像にて行えます。
ふるい目開きの決定
 
解析項目
 
@ 3D−XFmini解析  粒子厚み相当
A 3D−XFmax解析  粒子長相当
B 3D−Diameter解析  ふるい目開き相当
黄色いフレームは、粒子にフィットする最も小さい長方形の箱を表します。 黒いフレームは、粒子が通過できるふるいの目開きを表します。
 
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