日本ルフト株式会社

科学機器部

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超音波方式 粒子径分布・ゼータ電位測定装置

logoDTシリーズ

超音波の減衰やコロイド振動電流から粒度分布やゼータ電位を測定します。微粒子分散系の分散・凝集状態を的確に把握し、制御することは新製品開発のキーテクノロジーです。実用系での粒子の分散状態・表面電気化学特性が評価できるために、顔料、ナノ粒子、電子材料、CMPスラリーを含め、最先端の製品研究開発分野で多数の販売実績があります。

特徴

原液で測定可能 (希釈不要、0.1~50vol%まで測定可能)

高精度測定 複雑な光散乱から開放

超ワイドな測定 5nm~1000μm(ゼータ電位は<100μm)

ゼータ電位の同時測定 等電点や安定性の評価

良好な再現性

サンプルの色の影響は、全く有りません

アプリケーション

● 超音波式粒度分布測定

1.市販のアルミナの粒子濃度を変えた時の減衰スペクトル変化と粒度分布の結果
2.pH変化に伴うルチル型酸化チタンとアルミナの減衰スペクトルと粒度分布の結果
3.二つの大きさの異なる粒子を混ぜた時の粒度分布
4.ボールミルを用いた分散時間の異なる黒色無機粒子スラリーの粒度分布及び粘度の変化

● 超音波式ゼータ電位測定

1.標準コロイド液を連続100回測定再現性
2.セラミックスラリーのpH 滴定
3.分散剤の最適量
4.ゼータ電位プローブを利用した粗大粒子の検出、沈降粒子のモニタリング
5.導電率からポロシティ測定

仕様

測定項目 粒度分布測定(超音波減衰分光法による測定)
ゼータ電位測定(コロイド振動電流法による測定)
粒度分布測定 測定範囲:0.005~1000μm
(但し、平均径で理論計算上:粒子と溶媒の密度差や粒子濃度に依存する)
粒度分布:対数正規分布、改良型対数正規分布、及び二峰性分布計算可能
超音波周波数:1~100MHz
超音波減衰率:0~20±0.01db/cm/MHz
測定時間:測定時間はサンプルの性状に依存し、標準設定では、測定時間は7~20分程度。
ゼータ電位測定 精度±0.5%
コロイド振動電流再現性±1%
測定時間約30秒~5分程度 
サンプル 溶媒粘度:~20,000cp
粒子濃度:0.1~50Vol% 但し、測定上限/下限は、サンプルの性状に依存。
サンプル量:約5~150mL程度。但し、サンプリング方法によりサンプル量は異なります。
測定温度:50℃以下
pH:1.5~13
操作性 測定サンプルの供給と測定セルの洗浄を除き全自動
データ処理装置:ディスクトップ型パソコン、専用ソフトウエア、17インチカラー液晶モニター
装置本体寸法 概略:W1200×D900程度の作業スペースで装置1式設置可能
DT-1202本体寸法:W約530×D約260×H約450mm(循環ポンプ付き)重量:約30kg
オプション pH滴定ユニット、導電率測定ユニット、誘電率測定ユニット、循環恒温装置
電源 AC100V 50/60Hz DT-1202本体:最大300W